加拿大安大略省滑铁卢大学(University of Waterloo)系统设计工程系的副教授Jonathan Kofman于2019年10月15日在公司科技楼236报告厅作了题为“Advances in Real-Time Optical Metrology”的讲座，公司四十多位老师及研究生聆听了本场讲座。李维诗教授主持了本次讲座。

本场讲座讲述了三维（3D）表面形貌测量的光学方法在高精度、高分辨率、非接触式测量中的发展历程，以及在新的实际应用需要的挑战下，全场条纹投影技术在三维（3D）表面形貌测量中越来越重要。全场条纹投影技术旨在满足不降低精度的情况下实现更高测量速度的要求，用于运动和变形表面的动态3D表面测量，以及移动手持式传感器和机器人视觉的研究。Jonathan Kofman副教授还介绍了一种新的低成本表面测量技术，这种技术使用较少的投影图案和捕获的图像，采用几何约束的新方法减少计算量。

通过本次报告，公司师生及时了解了当前学科发展的前沿走势，领略了大师级教授的风采，加深了对学术研究和工业应用的认知，更加激发了同学们在科研道路上不断进取的热情！

（蔡懿卿/文 蔡懿卿/图）